加速耐候性試驗機3AP-CJ-50A冷熱沖擊試驗箱用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件，無一不需要它的理想測試工具

三、控制儀表 愛佩自主研發(fā)的7英寸超大觸摸AP-950可程序溫度控制器全觸摸屏控制器，觸摸屏輸入，根據(jù)客戶要求可任意設定不同高低溫沖擊溫度點，滿足做測試的不同需求.

四、試樣限制 本試驗設備禁止易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗或儲存腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗或

儲存生物試樣的試驗或儲存強電磁發(fā)射源試樣的試驗或儲存。

五、三箱特點 1、三箱設備區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，測試樣品完全靜止于測試區(qū)。采用獨特之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，強制冷熱風路切換方式導入測試區(qū)，沖擊時高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進行沖擊,完成冷熱溫度沖擊測試。

2、可獨立設定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，執(zhí)行冷熱沖擊條件時，可選擇2箱或3箱之功能并具有高低溫試驗機的功能,相比于2箱沖擊它還可選擇做常溫沖擊。

六、容積、尺寸和重量

6.1. 內(nèi)容積 50L

6.2. 內(nèi)箱尺寸 400 *350 *350mm (W* H *D)

6.3.外型尺寸(約) 1350*1900*1650mm (W* H *D)

6.4. 重 量 約900㎏

七、加速耐候性試驗機性能指標

7.1. 測試環(huán)境條件 機器周圍環(huán)境溫度維持在 25~ 30℃之間，相對濕度：≤85%；氣壓：86kPa～106kPa正常大氣壓力。

7.2. 滿足標準  .GB/T2423.1-2008 低溫試驗方法Test method of low tempemture test

·GB/T2423.2-2008 高溫試驗方法Test method of high temperature test

·GB/T2423.22-2012 溫度變化試驗Test of temperature chantge

·GJB150.5-86溫度沖擊試驗Test of temperature shock

·GJB360.7-87溫度沖擊試驗Test of temperature shock

·GJB367.2-87溫度沖擊試驗Test of temperature shock

·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等

7.3.測試室溫度范圍： -40℃～ 150 ℃ (風冷式)

7.4. 高溫室

7.4.1. 預熱溫度范圍 RT～ 165℃

7.4.2. 升溫時間

 50℃→ 165℃ ≤30min

注：升溫時間為高溫室單獨運轉(zhuǎn)時的性能

7.5. 低溫室

7.5.1. 預冷溫度范圍 RT～-55℃

7.5.2. 降溫時間  20℃ → -55℃≤約60min

注：降溫時間為低溫室單獨運轉(zhuǎn)時的性能

7.6. 試驗室（試樣區(qū)）

7.6.1. 試驗方式 采用獨特之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，強制冷熱風路切換方式導入測試區(qū)，沖擊時高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進行沖擊,完成冷熱溫度沖擊測試。

7.6.2. 溫度波動度 ±0.5℃

7.6.3. 溫度偏差 ±2.0℃

7.6.5. 溫度恢復時間 ≤5min；轉(zhuǎn)換溫度只需要≤10s（風門開啟時間：3秒以內(nèi)）